2025-05-27 00:39:22
圖簡(jiǎn)單地給出了晶閘管開(kāi)通和關(guān)斷過(guò)程的電壓與電流波形。圖中開(kāi)通過(guò)程描述的是晶閘管門(mén)極在坐標原點(diǎn)時(shí)刻開(kāi)始受到理想階躍觸發(fā)電流觸發(fā)的情況;而關(guān)斷過(guò)程描述的是對已導通的晶閘管,在外電路所施加的電壓在某一時(shí)刻突然由正向變?yōu)榉聪虻那闆r(如圖中點(diǎn)劃線(xiàn)波形)。開(kāi)通過(guò)程晶閘管的開(kāi)通過(guò)程就是載流子不斷擴散的過(guò)程。對于晶閘管的開(kāi)通過(guò)程主要關(guān)注的是晶閘管的開(kāi)通時(shí)間t。由于晶閘管內部的正反饋過(guò)程以及外電路電感的限制,晶閘管受到觸發(fā)后,其陽(yáng)極電流只能逐漸上升。從門(mén)極觸發(fā)電流上升到額定值的10%開(kāi)始,到陽(yáng)極電流上升到穩態(tài)值的10%(對于阻性負載相當于陽(yáng)極電壓降到額定值的90%),這段時(shí)間稱(chēng)為觸發(fā)延遲時(shí)間t。陽(yáng)極電流從10%上升到穩態(tài)值的90%所需要的時(shí)間(對于阻性負載相當于陽(yáng)極電壓由90%降到10%)稱(chēng)為上升時(shí)間t,開(kāi)通時(shí)間t定義為兩者之和,即t=t+t通常晶閘管的開(kāi)通時(shí)間與觸發(fā)脈沖的上升時(shí)間,脈沖峰值以及加在晶閘管兩極之間的正向電壓有關(guān)。[1]關(guān)斷過(guò)程處于導通狀態(tài)的晶閘管當外加電壓突然由正向變?yōu)榉聪驎r(shí),由于外電路電感的存在,其陽(yáng)極電流在衰減時(shí)存在過(guò)渡過(guò)程。陽(yáng)極電流將逐步衰減到零,并在反方向流過(guò)反向恢復電流,經(jīng)過(guò)**大值I后,再反方向衰減。
因為正常的壓敏電阻粒界層只有一定大小的放電容量和放電次數,標稱(chēng)電壓值不*會(huì )隨著(zhù)放電次數增多而下降,而且也隨著(zhù)放電電流幅值的增大而下降,當大到某一電流時(shí),標稱(chēng)電壓下降到0,壓敏電阻出現穿孔,甚至炸裂;因此必須限定通流容量。漏電流:指加一半標稱(chēng)直流電壓時(shí)測得的流過(guò)壓敏電阻的電流。由于壓敏電阻的通流容量大,殘壓低,抑制過(guò)電壓能力強;平時(shí)漏電流小,放電后不會(huì )有續流,元件的標稱(chēng)電壓等級多,便于用戶(hù)選擇;伏安特性是對稱(chēng)的,可用于交、直流或正負浪涌;因此用途較廣。2、過(guò)電流保護由于半導體器件體積小、熱容量小,特別像晶閘管這類(lèi)高電壓大電流的功率器件,結溫必須受到嚴格的控制,否則將遭至徹底損壞。當晶閘管中流過(guò)大于額定值的電流時(shí),熱量來(lái)不及散發(fā),使得結溫迅速升高,**終將導致結層被燒壞。產(chǎn)生過(guò)電流的原因是多種多樣的,例如,變流裝置本身晶閘管損壞,觸發(fā)電路發(fā)生故障,控制系統發(fā)生故障等,以及交流電源電壓過(guò)高、過(guò)低或缺相,負載過(guò)載或短路,相鄰設備故障影響等。晶閘管過(guò)電流保護方法**常用的是快速熔斷器。由于普通熔斷器的熔斷特性動(dòng)作太慢,在熔斷器尚未熔斷之前晶閘管已被燒壞;所以不能用來(lái)保護晶閘管。