上海熱成像校準系統供應 誠信為本 上海明策供應

BLIQ黑體作為T(mén)CB系列特殊版本，可以彌補TCB其他型號的不足：大尺寸面源，需要降溫到零下-40℃的溫度。BLIQ也有一些限制條件：需要連接BLIQ黑體的**罩（Inframet可提供）。覆蓋罩須裝充有干燥的氮氣，以保護黑體發(fā)射器免受結霜或濕氣冷凝。用戶(hù)需要提供干燥的氮氣。**罩不能有任何漏洞以免潮濕熱氣體進(jìn)入罩內。測試成像儀的光學(xué)鏡頭必須完全覆蓋在罩中的輸入孔中。罩長(cháng)必須至少等于黑體發(fā)射面的大小。這意味著(zhù)被測試的成像儀不能位于距BLIQ黑體發(fā)射器很短的距離。專(zhuān)業(yè)校準，Inframet DTR短焦熱像儀測試系統熱成像更出色，基數參數優(yōu)化，**升級！上海熱成像校準系統供應

SIM簡(jiǎn)易熱像儀測試系統是一款經(jīng)濟、實(shí)用的手動(dòng)切換靶標的圖像投影系統，由5個(gè)模塊組成：標準品質(zhì)的CDT離軸反射式光管（不適用于長(cháng)程熱像儀），NSB40黑體，CNSB控制器，TP2靶標槽和一組紅外靶標。SIM一般投射兩種類(lèi)型的目標的圖像：a)十字靶標的圖像(可提供兩種尺寸)，b)USAF951年靶標的圖像。CNSB控制器可控制NSB黑體的溫度，從而調節投影圖像的熱對比度。由于NSB40中不是一個(gè)穩定的黑體，用戶(hù)可以調節溫度，但溫度不穩定，且不能準確測量(只提供相對指示)。上海熱成像校準系統供應科技引航， INFRAMET SIM 熱成像光電測試系統，讓監控更精確高效！

Inframet生產(chǎn)的離軸反射式平行光管采用垂直結構，平行光管的焦平面位于反射鏡垂直方向的上方。這種類(lèi)型的平行光管實(shí)現了測試系統的簡(jiǎn)單化結構設計（只需較小、較窄的光學(xué)平臺）。而且，垂直結構的平行光管更為先進(jìn)之處在于系統用于熱像儀的測試時(shí)，垂直結構的黑體溫度的均勻性要優(yōu)于使用相同模塊的水平結構。

Inframet使用三個(gè)等級的離軸反射鏡面：?SR（標準分辨率）-制造精度PV不低于λ/2在λ=630nm。?HR（高分辨率）-制造精度PV不低于λ/6在λ=630nm（典型λ/10）。?UR（超高分辨率）-制造精度PV不低于λ/10在λ=630nm。?SQ（極高分辨率）-制造精度PV不低于λ/14在λ=630nm。Inframet采用典型的保護鋁鍍膜作為反射鏡的鍍膜材料，如果在可見(jiàn)光-近紅外波段達到均勻的反射率，則保護鋁鍍膜可以作為次反射平面鏡或者兩面反射鏡的鍍膜材料。如果在遠紅外波段需要達到非常高的反射率則需要使用保護金作為輔助鏡（或者兩個(gè)反射鏡）的材料。我們可以根據您所需口徑和焦距精度等提供定制化平行光管，滿(mǎn)足您的需求。

短波紅外相機與TV/LLLTV相機計算機化測試系統，

半自動(dòng)測試短波紅外相機的重要參數；1）ModeI：分辨率，MRC（蕞小可分辨對比度），MTF（調至傳遞函數），Distortion（畸變），FOV（視場(chǎng)），靈敏度，SNR（信噪比），NEI（噪聲等效輸入），FPN（固定圖形噪聲），non-uniformity（非均勻性）等；2）ModeII：MRTD（蕞小可分辨溫差，MDTD（蕞小可探測溫差），MTF（調至傳遞函數），NETD（噪聲等效溫差），FPN（固定圖形噪聲）等；3）ModeIII：（MeanDetectivity（平均探測率），NoiseEquivalentIrradiance（噪聲等效輻亮度），噪聲，動(dòng)態(tài)范圍等。 食品加工熱成像檢測設備校準，明策系統保障生產(chǎn)環(huán)節的溫度控制標準。

JT400軸對準測試系統外觀(guān)圖Inframet設計生產(chǎn)的用于測試多傳感器監控系統的MS系列測試系統不僅支持這些監控系統的擴展性測試，也支持軸對準測試。然而，MS系列測試系統是相對昂貴鎬端的測試系統。

JT多傳感器軸對準測試系統是相對經(jīng)濟的系統，用于**的軸對準測試以及光電多傳感器監控系統的基本參數測試。測試功能：1.不同視場(chǎng)的熱像儀的軸對準；2.不同鏡頭焦距的可見(jiàn)光-近紅外相機的軸對準；3.可見(jiàn)光-近紅外相機與熱像儀之間的軸對準；4.激光測距機與可見(jiàn)光-近紅外相機之間的軸對準；5.激光測距機與熱像儀之間的軸對準；6.激光指示器與可見(jiàn)光/近紅外相機以及熱像儀之間的軸對準；7.可見(jiàn)光/近紅外相機的分辨率/靈敏度；8.熱像儀的分辨率；9.激光測距機的發(fā)散角；10.參考光軸與參考機械軸(平面)的對準誤差。 INFRAMET SIM 熱成像光電測試系統，精確熱成像，基數參數智能調整，守護**，從細節開(kāi)始！上海熱成像校準系統供應

明策電子熱成像校準系統支持數據導出與報告生成，簡(jiǎn)化校準結果管理。上海熱成像校準系統供應

靶標是用于測試光電成像系統時(shí)創(chuàng )建參考圖像的模塊。Inframet提供的靶標可分為兩類(lèi):1)無(wú)源靶標，2)有源靶標。無(wú)源靶標需要由黑體或標定光源產(chǎn)生均勻光束照射，生成參考圖像模式的圖像。這些靶標通常是大型測試系統位于平行光管焦平面的小模塊。無(wú)源靶標的工作不需要電力供應。這些標準的小尺寸靶標作為Inframet制造的大型模塊化測試系統(如DT,TAIM,TVT,MS)的一部分。有源靶標是通過(guò)其自身的熱輻射或由人造光源發(fā)出的反射光創(chuàng )建參考圖案。這些目標通常是大型的單獨模塊（尺寸從500mm到3000mm），需要電才能正常工作。被測光電成像儀可直接看到有源靶標。這些靶標用于測試融合成像儀的融合算法或作為熱像儀/VIS-NIR相機分辨率靶標的流行解決方案。FUT系列靶標是有源靶標，通常用于測試融合成像系統或熱像儀。上海熱成像校準系統供應